ZEISS Axio Imager 2 MAT – микроскоп исследовательского класса
Axio Imager 2 MAT имеет четыре различных варианта штативов, а также возможность расширить области применения с помощью специальных решений: анализатора частиц Particle Analyzer, корреляционной микроскопии или LSM 900. Работа за микроскопом отличается простотой и удобством.
Области применения: авиационная и космическая промышленность, металлургическая и перерабатывающая промышленность, нефтегазовая и горнодобывающая промышленность, корреляционная микроскопия, 3D-топография, температурная микроскопия.
ZEISS Axio Imager 2 MAT преимущества и особенности:
- модульная конструкция с рядом моторизованных и кодированных компонентов;
- оптимальные условия и воспроизводимые результаты благодаря диспетчеру контрастности и света;
- работа без вибрации благодаря стабильной конструкции штатива;
- возможность обновить Axio Imager 2 с помощью модуля конфокального лазерного сканирования ZEISS LSM 800;
- с помощью ступеней нагрева AxioVision и Linkam Вы можете проводить эксперименты по нагреву или охлаждению, изучать как температура влияет на поведение металлов, кристаллов, керамики или пластика. Задокументировать температурный режим можно в виде серий фотоснимков;
- измеряйте частицы размером до 2 мкм. Программное обеспечение Particle Analyzer поддерживает стандарты тестирования чистоты ISO 16232, VDA 19 и анализа масла ISO 4406, ISO 4407 и SAE AS 4059;
- полностью охарактеризуйте остаточные частицы с помощью корреляционного автоматического анализа частиц от ZEISS;
- быстрая автоматическая фокусировка.
Axio Imager 2: контрасты
| Используйте отраженный свет и наблюдайте за образцами в ярком поле, темном поле, дифференциальном интерференционном контрасте (DIC), круговом дифференциальном интерференционном контрасте (C-DIC), поляризации или флуоресценции. Изучайте широкий спектр материалов – металлические конструкции, композиты, стекло, дерево, керамику, полимеры, жидкие кристаллы. Используйте проходящий свет и исследуйте образцы в светлом поле, темном поле, дифференциальном интерференционном контрасте (DIC), поляризации или круговой поляризации.
Диспетчер контрастности обеспечит воспроизводимые настройки освещения для каждого из методов контрастирования. |
Axio Imager 2 MAT – эргономика
Axio Imager.Z2m или Axio Imager.M2m отображают основные рабочие функции на сенсорном экране, позволяя одним касанием управлять всеми моторизованными компонентами.
Дополнительные кнопки управления эргономично расположены вокруг привода фокусировки и имеют тактильные поверхности, которые позволяют легко их различить.
Axio Imager.D2m имеет пять предварительно запрограммированных кнопок, а Axio Imager.Z2m имеет десять определяемых пользователем кнопок.
Области применения
| Области применения | Задача |
| Автоматизированная индустрия | Контроль качества и разработка составных материалов |
| Контроль качества сварных соединений | |
| Исследование включений и трещин | |
| Определение размеров зерен и неметаллических включений | |
| Анализ частиц | |
| Авиационная и космическая промышленность | Контроль качества и разработка составных материалов |
| Контроль качества сварных соединений | |
| Исследование включений и трещин | |
| Определение размеров зерен и микроструктуры фаз | |
| Металлургическая и перерабатывающая промышленность | Исследование включений и трещин |
| Определение размеров зерен и неметаллических включений | |
| Анализ анизотропных материалов | |
| Нефтегазовая и горнодобывающая промышленность | Анализ текстуры и микроструктуры |
| Анализ пор | |
| Флуоресцентный анализ | |
| 2D- и 3D-изображения | |
| Анализ частиц | Проверка чистоты в соотв. согласно ISO 16232, VDA 19 |
| Определение остаточного загрязнения масел и смазок в соотв. согласно ISO 4406, ISO 4407, SAE AS 4059 | |
| Корреляционная микроскопия | Комбинация информации от светового и электронного микроскопа |
| Быстрый переезд интересующих регионов | |
| Неметаллические включения (NMI) | Количественный и качественный анализ микроструктуры стали. |
| Определение чистоты стали | |
| Исследование содержания и распределения неметаллических включений. на основе цвета, яркости, формы и формы | |
| Оценка включений со сравнительными диаграммами | |
| Точная идентификация сульфидов и оксидов в соотв. согласно DIN 50602, EN 10247, ASTM E45, ISO 4967, GB / T 10561, SEP 1571 и JIS G 0555 | |
| 3D-топография | Измерение шероховатости |
| Обнаружение перепада высот | |
| Измерение толщины прозрачных покрытий, характеристик поверхности, цвет и блеск | |
| Температурная микроскопия | Исследование влияния температуры на поведение металлов, кристаллов, керамика и полимеры |
| Выявление фазовых превращений | |
| Определение температуры фазового перехода | |
| Определение температуры плавления |










